一、模塊化雙波長紫外檢測技術（核心）

• 可插拔受光器系統

  采用分離式探頭 + 主機架構，通過更換UVD-365PD（365nm UVA）與UVD-405PD（405nm 紫光）探頭，實現雙波段精準測量，一機多用。

• 365nm (UVD-365PD)：量程 0.01～1999 mW/cm2，分辨率 0.01 mW/cm2，響應帶寬 330–390nm。

• 405nm (UVD-405PD)：量程 0.001～199.9 mW/cm2，分辨率 0.001 mW/cm2，適配藍光半導體光源。

• 窄帶干涉濾光 + 硅光電二極管

  探頭內置干涉濾光片，精準切割目標波段、抑制可見光 / 雜散光干擾；采用低噪聲硅光電二極管，光電轉換線性度 ±1% 以內，保證弱光與強光下均穩定。

• USHIO 原廠絕對校準體系

  出廠按NIST / 日本國家標準溯源標定，每臺帶獨立校準數據；CAL 值校準功能可快速修正探頭衰減 / 更換誤差，確保長期絕對值精度 ±5%。

二、高速低噪信號處理技術

• 50ms 高速響應 + 32 次 / 秒高采樣

  專用低噪聲放大 + A/D 轉換電路，響應時間約 50ms、采樣率 32 樣本 / 秒，精準捕捉 UV 光源瞬時波動、脈沖光與漸變光強。

• 三檔自動 / 手動量程（H/M/L）

  智能量程切換，覆蓋微瓦～瓦級寬幅光強，避免超量程溢出，保證全范圍讀數穩定。

• 溫度補償技術

  探頭內置溫度傳感器，**-0.2%/℃** 溫度系數補償，**0～50℃** 工業環境下精度漂移極小。

三、工業級數據輸出與可靠性設計

• 0～1.999V 模擬量輸出

  標準線性模擬輸出（阻抗≤2kΩ），直接對接 PLC、數據記錄儀、工控系統，實現生產線實時監控與閉環控制。

• 雙電源供電設計

  支持3 節 7 號電池（約 45 小時）或外接 AC 適配器，現場便攜與長期在線監測兩用。

• 抗干擾與防護結構

  全金屬屏蔽、EMC 抗干擾設計；探頭石英玻璃窗口耐磨耐刮、易清潔；主機緊湊堅固，適配車間、無塵室等嚴苛環境。

四、核心技術應用價值

• 高精度：雙波長 + 絕對校準，滿足半導體、印刷、醫療等精密 UV 工藝的照度管控。

• 高穩定：低漂移、快響應、寬溫域，保障24 小時連續生產的一致性。

• 高適配：模塊化 + 模擬輸出，輕松融入自動化產線與設備監控系統。